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iPhone6 Plus存在技术问题 恐将大规模召回

2014年11月05日08:25    来源:TechWeb.com.cn    手机看新闻
原标题:iPhone6 Plus存在技术问题 恐将大规模召回

6plus

  iPhone6 Plus存在技术问题 恐将大规模召回

  苹果在今年9月推出了最新一代智能手机iPhone 6和iPhone 6 Plus。虽然大受用户欢迎,不过同时也有不少问题出现。iPhone 6 Plus“弯曲门”事件余音未消,又有消息显示iPhone6Plus会频繁死机。

  AppleInsider在10月23日报道称,众多用户在论坛发帖抱怨iPhone 6 Plus系统崩溃、或不断重开机的问题,目前还不清楚故障是什么原因。有用户已经因此连续更换了四部iPhone6 Plus。

  据韩国媒体报道,这些问题主要发生在128GB版iPhone 6 Plus,可能跟三阶储存单元(TLC)NAND型快闪记忆体(NAND flash)的控制IC有关联,倘若真是如此,苹果也许会展开大规模的召回行动。

  TLC flash是一种固态的NANDFlash,每一个快闪媒介单元都能储存3位元的资料,容量为单阶储存单元(SLC)、多阶储存单元(MLC)的两到三倍之多。另外,TLC更为廉价,在读取和写入速度方面,TLC的速度也不如SLC或MLC。

  据称,苹果为了节省成本而在128GBiPhone 6 Plus 与其他一些型号使用了TLC。而在此之前,TLC都只用在部分iPad上,而价格更高、稳定度更高的MLC则应用于iPhone。

  网上很多报道显示,读取性能差的三星SSD840和840EVO使用了TLC闪存,因此控制器集成电路的问题被认为是导致缺陷的最可能原因。随着对SSD840和840EVO争议的上升,三星不得不升级了固件。部分业界人士认为,倘若TLC真的是iPhone 6 Plus 系统崩溃的主因,那么苹果也许会召回已经出售的所有产品。

 

(责编:胡晓、李洪涛)


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