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“超級針”X射線成像系統問世

成像分辨率小於1微米,相當於發絲的1%

2018年11月02日08:17 | 來源:人民網-人民日報
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  近日,中國電科38所發布自主研制的新一代無損檢測設備——“超級針”X射線成像系統,這是全國首台“超級針”X射線成像系統。該系統擁有“火眼金睛”般的缺陷檢測能力,成像分辨率小於1微米,相當於發絲的1%,可應用於集成電路、軍工航天、汽車電子、醫療診斷、文物保護等多個領域。

  微焦點X射線成像系統是工業無損檢測的常規必備設備,廣泛應用於集成電路、電子器件等各種器材的無損檢測。中國電科38所“超級針”X射線成像系統採用獨特的“超級針”X射線源專利技術,可在圖像增強器上形成被掃描物體的透視圖像。該設備採用全國首創的“超級針”X射線源,因而以“超級針”冠名,具有成像清晰、性能穩定、潔淨度高、超低輻射、低能成像等優點,在硅、鋁、銅、陶瓷等輕元素材料的精密檢測方面優勢明顯,已申請國內外發明專利30余項。(記者孫振)


  《 人民日報 》( 2018年11月02日 12 版)

(責編:易瀟、楊波)

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